下面給我們介紹一種根據(jù)雙閃耀勘探器的低本底αβ測(cè)量?jī)x,該儀器可用于低水平αβ樣品丈量,并可區(qū)別αβ粒子.論述了αβ雙閃耀體勘探器的主要參數(shù)和先進(jìn)的數(shù)字化電路規(guī)劃思路,給出了儀器αβ本底水平,串道比,αβ功率等物理性能的測(cè)驗(yàn)?zāi)繕?biāo).描繪了儀器軟件主動(dòng)坪曲線丈量,主動(dòng)刻度等功能的規(guī)劃.

本實(shí)用新型供給一種專用于低本底αβ測(cè)量?jī)x藍(lán)光雙閃晶體勘探器,包含順次相銜接的勘探器,光電倍增管,前置放大器,所述前置放大器與操控端進(jìn)行銜接,所述勘探器包含塑料閃耀體,避光層,所述避光層盤繞塑料閃耀體外圍,并向塑料閃耀體的前方凸出.所述專用于低本底αβ測(cè)量?jī)x藍(lán)光雙閃晶體勘探器經(jīng)過設(shè)置的塑料閃耀體能夠有顯著效果地的對(duì)α,β進(jìn)行一起檢測(cè),互不影響,一起塑料閃耀體產(chǎn)品外表涂層結(jié)實(shí),是低本底αβ檢測(cè)儀中核心部件,與低噪聲的光電倍增管地點(diǎn)的光波敏感區(qū)域緊契合,不怕污染,可清洗.
    低本底αβ測(cè)量?jī)x觸及輻射丈量技術(shù)領(lǐng)域,詳細(xì)公開了一種適用于四路低本底αβ測(cè)量?jī)x的反契合設(shè)備,包含四個(gè)主勘探器,三個(gè)反契合勘探器,設(shè)于主勘探器和反契合勘探器之間的樣品盤抽拉設(shè)備以及反契合晶體.本發(fā)明針對(duì)四路低本底αβ測(cè)量?jī)x,挑選三個(gè)反契合勘探器兩兩等距離擺放進(jìn)行勘探,在統(tǒng)籌經(jīng)濟(jì)的前提下,有用降低了本底,確保了儀器弱小放射性水平的準(zhǔn)確丈量.